Описание
Нанодиагностический комплекс с функциями сканирующей зондовой и оптической микроскопии предназначен для проведения испытаний металлических, керамических, полимерных материалов, нанокомпозитов, тонких пленок и биологических микро- и нанообъектов. Комплекс может применяться при проведении фундаментальных и прикладных исследований в области микробиологии, микромеханики, тонкопленочных технологий, нанотехнологий и биотехнологий, для определения физико-механических свойств материалов на микро- и наноуровнях.ОПИСАНИЕ ПРЕДЛОЖЕНИЯ
Комплекс относится к автоматизированным аппаратным средствам визуализации и зондового сканирования микрообъектов (в том числе биологических клеток) с нанометровым разрешением и анализа их локальных механических свойств методом индентирования.
Измерение данных параметров позволяет получить достоверную и полную информацию о вязкоупругих материалах (полимерах, биотканях, клетках и органеллах).
Для эффективного использования комплекса разработано методическое обеспечение по определению модуля упругости, времени релаксации; вязкости и тангенса механических потерь материала при наноиндентировании.
Комплекс выполнен в виде настольного прибора блочной структуры. Конструктивное исполнение комплекса обеспечивает удобство эксплуатации, доступ ко всем его узлам и блокам, требующим регулирования или замены в процессе работы.
Комплекс позволяет решать задачи нанодиагностики, наноструктурного материаловедения и биомеханики:
- визуализацию нанообъектов и поверхностных слоев с нанометровым латеральным и вертикальным разрешением
- пространственную визуализацию биологических клеток
- проведение исследований в жидкой среде
- проведение исследований при совмещении функций оптической и сканирующей зондовой микроскопии
- позиционирование зонда в микромасштабе
- определения упругих и адгезионных свойств полимерных нанокомпозитов, тонких пленок и биологических клеток
- определения реологических характеристик вязкоупругих материалов в наномасштабе
ОСНОВНЫЕ ЭКСПЛУАТАЦИОННЫЕ ХАРАКТЕРИСТИКИ КОМПЛЕКСА:
Режимы индентирования: статический, динамический.
Разрешение при зондовом сканировании:
вертикальное 0,1 нм
латеральное 5 нм
Измерение сил:
разрешение 1 нН
диапазон измерения, в зависимости
от жесткости нагружающего элемента от 0,001 до 10 мН
увеличение обеспечения оптической функции до х 500
максимальное поле сканирования 50х50 мкм2
СВЕДЕНИЯ О ПАТЕНТАХ
№ BY 5208 Зонд с углеродной нанотрубкой для атомно-силового микроскопа. МПК: G 12B 21/00. Опубликовано: 30.04.2009. Дата подачи: 12.09.2008.
№ BY 16535 Способ сканирования образца в виде подложки с покрытием на сканирующем зондовом микроскопе. МПК: G 01Q 10/00. Опубликовано: 30.12.2012.
№ BY U 5368 Зонд для измерения механических и трибологических характеристик материалов. МПК: G 01N 3/40; G 01N 19/02; G 01N 3/56. Опубликовано: 30.06.2009.
№ BY U 5271 Сканирующий зондовый микроскоп. МПК: G 01N 13/10. Опубликовано: 30.06.2009.
ПРЕДЛАГАЕМЫЕ ФОРМЫ СОТРУДНИЧЕСТВА
Создание оборудования; проведение измерений на договорной основе.