Назначение и основные характеристики
Используется для исследования поверхностных структур методом оптической микроскопии.
- режим наблюдения: в отраженном свете
- типы освещения: светлопольный, темнопольный
- перемещение образца и фокусировка: ручная
- регистрация изображений: визуальное наблюдение, цифровая камера